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场发射扫描电镜和电子探针双双获得专家好评
文章来源:本站   作者:张燕鸣  发布日期:2013/7/3 10:39:57  点击:1902

    JSM-7001F场发射扫描电镜和JXA-8230电子探针落户石油装备质检中心已近一年,经过一段时间的调试和使用,已逐步步入正轨,但是由于设备的高端性和复杂性,一直以来都未得到很好的利用和认可。

    JSM-7001F场发射扫描电镜是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台,目前主要用于各种材料的表面形貌分析,材料的组成及物相分析,包括能谱、背散射电子分析等,尤其是在配上OXFORD的能谱仪之后,能够在一定程度对材料的化学成分实现定量分析,极大地拓展了场发射扫描电镜的使用范围。JXA-8230电子探针全称JXA-8230超级电子探针显微分析仪,是一款高分辨率、高稳定、WD/ED组合的电子探针显微分析仪。电子探针可以实现对矿物、岩石、金属、材料等的微区化学组成定性和定量分析,同时也可以试下线分析、面分析、微区形貌图像、成分分布图像及微区结合状态分析等,应用范围特别广,目前在我石油装备中心,主要用于有色金属制品的化学成分分析,在一定程度上弥补了部分元素难以进行化学成分分析的缺憾。

    今天,CNAS评审组专家来石油装备质检中心进行资质认定考察,对我们的场发射扫描电镜和电子探针赞不绝口,李老师认为新型高科技设备不仅提高了我们自身的检验检测能力,拓宽了检验检测领域,同时对整个行业的发展也起到了很大的推动作用。
 
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